Рентгеновские методы анализа состава, структуры и свойств различных материалов, основанные на взаимодействии рентгеновского излучения с материалом образца.

Рентгеновская дифрактометрия (РД, XRD) - метод неразрушающего контроля, предназначенный для идентификации и количественного определения кристаллических фаз в порошковых и твердых образцах, изучения структуры и размера кристаллитов, качества, однородности твердых материалов и тонких пленок. Международное обозначение метода – XRD (от X-Ray Diffraction).

Оборудование: Рентгеновский дифрактометр SmartLab (RIGAKU)

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия с волновой дисперсией (XRF, РФА, РФС) - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от Бериллия (№4) до Урана (№92) в диапазоне от долей ppm до 100% в веществах и материалах различного происхождения. Метод РФА основан на анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением. Для анализа спектра вторичного излучения применяют либо дифракцию рентгеновских лучей на кристалле (волновая дисперсия), либо используют детекторы, чувствительные к энергии поглощенного кванта (энергетическая дисперсия).

Оборудование: Рентгенофлуоресцентный спектрометр ZSX Primus II (RIGAKU)

По вопросам проведения исследований обращаться по телефону +7 (843) 227-40-93

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, пользовательских данных (сведения о местоположении; тип и версия ОС; тип и версия Браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник откуда пришел на сайт пользователь; с какого сайта или по какой рекламе; язык ОС и Браузера; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; ip-адрес) в целях функционирования сайта, проведения ретаргетинга и проведения статистических исследований и обзоров. В случае отказа от обработки персональных данных я проинформирован о необходимости прекратить использование сайта или отключить файлы cookie в настройках браузера.
OK
Яндекс.Метрика